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产品选型

设计与开发

  • BAT32G113

    32KB Flash,可编程增益放大器模拟比较器,12Bit ADC,12Bit DAC,标准I2C支持从机双地址广泛适用于光通讯里面的光电转换模块、光纤网络模块、基站系统、精密仪器、工业控制设备和智能传感自动化系统等。

    数据手册 >
    BAT32G113KC32NA1
    BAT32G113KC24NB1
    BAT32G113KC32NA
    BAT32G113KC24NB

    BAT32G113系列产品采用高性能的ARM Cortex M0+32RISC内核,最高可工作于64MHz32KB Flash4KB SRAM。本产品集成支持从机双地址的I2CSPIUART多种标准接口。集成12Bit ADC12Bit DAC、温度传感器、比较器可编程增益放大器。同时还具有出色的低功耗性能,支持睡眠和深度睡眠两种低功耗模式,设计灵活。其运行功耗为 80uA/MHz@64MHz,在深度睡眠模式下功耗仅1.5uA,可广泛适用于光模块传感器以及移动设备等高性能低功耗应用领域。

    产品特性

    > ARM Cortex M0+内核  

    > 主频最高64MHz @2.0V-5.5V

    > 工作电压:2.0V-5.5V

    > 工作温度:-40℃ - 125℃  

    > 32KB Flash

    > 4KB SRAM

    > 多达29个GPIOs  

    > 硬件乘除法器模块

    > 9个16Bit通用定时器  

    > 1个WDT 

    > 1个SysTick 定时器  

    > 增强型DMA控制器  

    > 联动控制器

    > A/D转换 - 10个外部模拟通道的高精度12Bit ADC,1.42Msps

    > D/A转换 – 12Bit精度,  支持2通道

    > 内置1通道可编程增益放大器,1/2.5/4/8/10/16/32倍增益可选

    > 2通道比较器,输入源及基准电压可选

    > 1个I2C标准接口,支持从机双地址,2个简易I2C接口

    > 1个标准SPI接口

    > 2个UART接口,其中UART0个接口支持软件LIN-Bus

    > 符合IEC/UL 60730相关标准

    > 异常存储空间访问报错,硬件CRC校验,特殊SFR保护,防止误操作

    > 128位唯一ID号

    > 封装:QFN24,QFN32


  • 产品选型

    型号 封装形式 主频(MHz) 内核 工作温度 (℃) 电压 (V) Memory Type ROM RAM GPIO DMA Timer WDT/WWDT UART I²C SPI LIN PWM/EPWM SAR-ADC SAR-ADC-bit SAR-ADC-ch SAR-ADC-speed(Msps) DAC DAC-bit COMP PGA Co_proc CO-DIV
    SAR-ADC-unitSAR-ADC-bitSAR-ADC-chSAR-ADC-speed(Msps)DAC-unitDAC-bitCO-MULCO-DIV
    BAT32G113KC32NA QFN32 64 M0+ -40 ~125 2.0~5.5 FLASH 32KB 4KB 29 40 9 1 2 2+1 2+1 1 10 1 12 10 1.42 2 12 2 1 Y Y
    BAT32G113KC24NB QFN24 64 M0+ -40 ~125 2.0~5.5 FLASH 32KB 4KB 20 40 9 1 2 2+1 2+1 1 7 1 12 8 1.42 2 12 2 1 Y Y

  • 设计与开发

    技术文档
    名称 版本 描述 下载
    Cmsemicon.BAT32G113.pack V0.1.2

    BAT32G113 MCU Keil器件支持安装包

    下载 >
    BAT32G113数据手册 V0.5.3

    介绍了BAT32G113芯片特性、性能指标、封装信息等

    下载 >
    BAT32G113用户手册 V0.5.0

    介绍BAT32G113芯片模块、芯片寄存器、时钟、存储等信息

    下载 >

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